產品詳情
1、產品特點：
EIGER2 R CdTe 1M X 射線探測器將混合像素光子計數探測器的新發展和碲化鎘感光像素的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設置時， EIGER2 R CdTe 1M 是良好的選擇。
2、核心優勢：
– 高的量子效率、更短的測試時間和更高質量的數據
– 即時觸發技術使得計數率大幅度提高
– 雙能閾值，可用于低背景和高背景的抑制
– 無讀出噪音和暗電流，確保了很好的信噪比
– 計數器具有同時讀/寫功能，確保了高動態范圍和無飽和的圖像
3、應用領域：
- 大分子晶體學（MX）；
- 化學結晶學；
- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；
- μCT；
- 其它；
4、技術參數：
EIGER2 R CdTe | 500K | 1M | 4M |
探測器模塊數量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||
點擴散函數 | 1 pixel | ||
能量閾值 | 2 | ||
能量范圍[KeV] | 8-24.2 | ||
閾值范圍[KeV] | 4-30 | ||
最大計數率（cps/mm2） | 9.8×108 | ||
計數器深度（bit/threshold） | 2×16 | ||
采集模式 | 同時讀/寫，死區時間為零 | ||
圖像位深度（bit） | 32 | ||
可選真空兼容 | Yes | ||
冷卻方式 | 水冷 | ||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 |
重量 [kg] | 3.7 | 3.9 | 15 |
010-62712978，136911 11138
